日立光譜分析儀由日本日立企業生產的光譜檢測設備，其日立企業在1910年，由當時的日本工程師小平浪平在日本東京創立，zui早是生產設計電機，在電子技術積累了大量的技術經驗，為以后的光譜儀產品的研發奠定了扎實的基礎，特別是在光譜分析儀核心零件方面與國際持平。

光譜儀核心零件方面一般有光柵和傳感器，其中傳感器是控制光譜分析儀檢測范圍的核心硬件，其中日立oe750等光譜儀之所以能夠實現全元素檢測得益于內部傳感器，現在的傳感器告別以前的單通道檢測，采用的多通道檢測，無需再檢測每一種元素時添加一塊主板，而是將這些繁瑣的檢測主板都全部集合到一塊主板上，不但更省事也更節省成本支出。

現在市面上常用的傳感器分為cmos傳感器和ccd傳感器，其中cmos傳感器是在ccd傳感器的基礎上進行研發設計的，在采集處理光譜的能力上更強，對應的其能夠檢測的元素會相應的更多，這樣的多元素檢測范圍讓企業的生產材料更加多樣化，無需擔心后期無法質檢的問題發生。

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