描跡，這個詞語，似乎有點久遠，早些年使用PMT作為檢測器的直讀光譜儀會涉及到描跡的操作，然而，在目前大多數使用CCD/CMOS作為檢測器的全譜直讀光譜儀而言，描跡是不用操作員操作的。下面為大家帶來關于直讀光譜儀怎樣描跡的相關知識。

直讀光譜儀怎樣描跡？直讀光譜儀的描跡是調整入射狹縫的zui佳位置，目的是從光源發射的光譜經過狹縫到達檢測器的信號zui大化。由于溫度的變化及其它因素的影響，可能引起譜線飄移，為保證譜線和出射狹縫穩定重合，應定期用描跡的方法進行調整，使所有出射狹縫調整到較理想的位置上。通過描跡，確定波峰的位置是否正確。

描跡的方法是轉動人射狹縫的手輪，描跡一條譜線，找出其峰值的位置，然后將手輪轉到該峰值的位置，使各個分析元素譜線對準各自的出射狹縫。通過入射狹縫的水平位移，達到入射角度的變化，從而達到出射光譜水平位移的目的。在直讀光譜分析中的描跡，主要是確定入射狹縫的位置；根據生產廠家的規定，一般把鐵和汞線當作描跡譜線。描跡的過程也可用計算機去完成。另外，什么時候需要進行描跡：(1)長期停電和突然斷電；(2)溫控出現故障；(3)清完火花臺和擦完透鏡；(4)每一周做一次或按使用狀況設定。

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