掃描透射電子顯微鏡和掃描電子顯微鏡看著很相似，導(dǎo)致一些采購設(shè)備人員容易混淆，那掃描透射電子顯微鏡和掃描電子顯微鏡有什么區(qū)別呢？下面我們就來為大家詳細(xì)介紹下。

透射電子顯微鏡和掃描電子顯微鏡的區(qū)別如下：主要有結(jié)構(gòu)、基本工作原理差異：透射電子顯微鏡是用透過樣品的電子束使其成像的電子顯微鏡，在一個高真空系統(tǒng)中，由電子槍發(fā)射電子束，穿過被研究的樣品，經(jīng)電子透鏡聚焦放大，在熒光屏上顯示出高度放大的物像，還可作攝片記錄的一類最常見的電子顯微鏡。而電子掃描顯微鏡是用電子探針對樣品表面掃描使其成像的電子顯微鏡。應(yīng)用電子束在樣品表面掃描激發(fā)二次電子成像的電子顯微鏡。主要用于研究樣品表面的形貌與成分。

另外在對樣品要求，掃描電鏡SEM制樣對樣品的厚度沒有特殊要求，可以采用切、磨、拋光或解理等方法將特定剖面呈現(xiàn)出來，從而轉(zhuǎn)化為可以觀察的表面。透射電鏡由于TEM得到的顯微圖像的質(zhì)量強(qiáng)烈依賴于樣品的厚度，因此樣品觀測部位要非常的薄，例如存儲器器件的TEM樣品一般只能有10～100nm的厚度，這給TEM制樣帶來很大的難度。目前比較理想的解決方法是通過聚焦離子束刻蝕（FIB）來進(jìn)行精細(xì)加工。

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