原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope，AFM），一種可用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器。它通過檢測待測樣品表面和一個微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物質的表面結構及性質。那原子力顯微鏡 使用是怎樣的呢？下面我們來一起了解下。

打開計算機主機、顯示器;打開Nanoscope控制器;打開Dimension Stage控制器。選擇合適的探針和夾;安裝探針;安裝探針夾到原子力顯微鏡上。將激光打在懸臂前端;調整檢測器位置;接著啟動軟件，在原子力顯微鏡視野中預先找到探針位置非常重要。若不如此做，可能會發生撞針的情況。

然后就是進樣，樣品制備和聚焦樣品。再掃描圖像，有ScanAsyst智能模式和Tapping 模式及Contact 模式，選擇模式后點擊 Engage進針，進針結束開始掃圖。將Scan size設置成要掃描的范圍。zui后對原子力顯微鏡的掃描圖像存圖，通過可以設置文件名及存圖路徑。點擊退針關機即可。

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