工業用金相顯微鏡是一種研究晶體缺陷十分有用的儀器，它在金屬材料和半導體材料領域有著廣泛的用途。例如，可以用它觀察半導體晶體中的位錯、體內層錯和氧化層錯、晶格點陣無序等結構缺陷。如在實際應用探討鐵素體系球墨鑄鐵之奧氏體結構，及均質化與溫度對奧氏體的影響，并比較球墨鑄鐵與鋼之奧氏體化反應的差異及其原因。使其成為鑄造里經常會使用到的設備。

像這些經均質化處理后之球墨鑄鐵，其奧氏體優先成核位置為球墨鐵素體界面，而在球墨周圍之奧氏體成長，主要是依靠碳原子的擴散進行，而未均質化球墨鑄鐵的優先成核、成長位置，包括球墨鐵素體界面與共晶胞晶界等，而在這類金相組織觀察時，因避免觀察時金相分析顯微鏡出現色差影響觀察。

這是因為工業金相顯微鏡在觀察時出現色差，會影響數碼設備對結晶體結構的抓拍識別，因為色差現象的產生是由于光軸上的物點發出的多色光經單透鏡成像時，各色光對應的不重合的像點而造成的，在產生色差現象后，在觀察成像效果上，觀察區域周圍會產生模糊化，從而影響大家的觀察效果，因此45°金相顯微鏡就采用除色差技術，從根本上解決此類問題，大家在使用時也更放心。

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