透射電子顯微鏡原理：透射電子顯微鏡（TransmissionElectronMicroscope，通稱TEM），能夠 見到在顯微鏡下沒法認清的低于0.2um的微小構造，這種構造稱之為亞顯微結構或超微結構。要想認清這種構造，就務必挑選光波長更短的燈源，以提升光學顯微鏡的屏幕分辨率。1932年Ruska創造發明了以電子束為燈源的透射電子顯微鏡，電子束的光波長要比能見光和紫外線短得多，而且電子束的光波長與發送電子束的工作電壓平方根反比，換句話說工作電壓越高光波長越少。現階段TEM的分辨率可以達到0.2nm。透射電子顯微鏡原理是由電子槍發送出去的電子束，在真空泵安全通道中順著鏡體直線光軸穿越重生聚光鏡，根據聚光鏡將之匯聚成一束細尖、光亮而又勻稱的光點，直射在樣品房間內的樣品上；通過樣品后的電子束帶上有樣品內部的構造信息內容，樣品內高密度處通過的電子量少，稀少處通過的電子量多；歷經目鏡的匯聚變焦和初中級變大后，電子束進到下屬的正中間鏡片和第一、第二投射鏡開展綜合性變大顯像，最后被變大了的電子影象投影在觀查房間內的顯示屏板上；顯示屏將電子影象轉換為能見光影象以供使用人觀查。這節將各自對各系統軟件中的關鍵構造和基本原理給予詳細介紹。

透射電子顯微鏡成像原理:透射電子顯微鏡的成像原理可分成三種狀況：

1.消化吸收像：當電子射到品質、密度大的樣品時，關鍵的成相功效是透射功效。樣品上品質薄厚大的地區對電子的偏振度大，根據的電子較少，像的色度偏暗。初期的透射電子顯微鏡全是根據這類基本原理。

2.衍射像：電子束被樣品衍射后，樣品不一樣部位的衍射波震幅遍布相匹配于樣品中結晶各一部分不一樣的衍射工作能力，當發生點缺陷時，缺點一部分的衍射工作能力與詳細地區不一樣，進而使衍射波的震幅遍布不勻稱，體現出點缺陷的遍布。

3.相位差像：當樣品薄至100?下列時，電子能夠 越過樣品，波的震幅轉變能夠 忽視，顯像來自于相位差的轉變。

透射電子顯微鏡的主要用途

透射電子顯微鏡在管理科學、分子生物學上運用較多。因為電子易透射或被物件消化吸收，故穿透性低，樣品的相對密度、薄厚等都是會危害到最終的顯像品質，務必制取更薄的纖薄切成片，一般 為50～100nm。因此 用透射電子顯微鏡觀查時的樣品必須解決得非常薄。常見的方式 有：纖薄切成片法、冷藏纖薄切成片法、冷藏蝕刻加工法、冷藏破裂法等。針對液態樣品，一般 是掛預備處理過的銅在網上開展觀查。

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