場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡是電子顯微鏡的一種，掃描電鏡(SEM)是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進(jìn)行微觀成像。能做各種固態(tài)樣品表面形貌的二次電子像、反射電子象觀察及圖像處理。

場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡利用二次電子成像原理，在鍍膜或不鍍膜的基礎(chǔ)上，低電壓下通過(guò)在納米尺度上觀察生物樣品如組織、細(xì)胞、微生物以及生物大分子等，獲得忠實(shí)原貌的立體感強(qiáng)的樣品表面超微形貌結(jié)構(gòu)信息。 具有高性能x射線能譜儀，能同時(shí)進(jìn)行樣品表層的微區(qū)點(diǎn)線面元素的定性、半定量及定量分析，具有形貌、化學(xué)組分綜合分析能力。

場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡（簡(jiǎn)稱場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡）是研究微觀世界的重要工具之一，有很大的景深，視野大，成像富有立體感，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細(xì)微結(jié)構(gòu)，有較高的放大倍數(shù)，20-30萬(wàn)倍之間連續(xù)可調(diào)，為人們?cè)谖⒓{米尺度上研究物質(zhì)的結(jié)構(gòu)提供了有力的手段，在材料科學(xué)等眾多學(xué)科領(lǐng)域及質(zhì)量過(guò)程控制中得到日益廣泛的應(yīng)。

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