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精密測量顯微鏡采用透、反射的方式對(duì)工件長度和角度作精密測量。主要運(yùn)用于錄像磁頭、大規(guī)模集成電路線寬以及其它精密零件的測試。廣泛地適用于計(jì)量室、生產(chǎn)作業(yè)線及科學(xué)研究等部門。其中主要還是在電子工業(yè)鑄造業(yè)等應(yīng)用更廣，如觀察電路板的構(gòu)造，觀察零件直接的精確距離，是在把控質(zhì)量時(shí)不可缺少的精密儀器。

由于越來越多的研究已不滿足常規(guī)的金相顯微鏡，開始將顯微成像輸入微機(jī)，由微處理器對(duì)圖像作各種后期處理，圖像金相顯微鏡是顯微領(lǐng)域新技術(shù)。圖像金相顯微鏡，接入了高清晰度的CCD攝像系統(tǒng)，由計(jì)算機(jī)對(duì)圖像進(jìn)行處理自動(dòng)識(shí)別等，對(duì)金相圖譜進(jìn)行研究分析，或?qū)D像作精密測量，及多功能的圖像形態(tài)分析報(bào)告。

倒置型金相顯微鏡為傳統(tǒng)型倒置金相顯微鏡，操作時(shí)試樣觀察表面向下，并與工作臺(tái)面重合，而對(duì)試樣的高度和平行度無要求，適合于外形不規(guī)則或較大的試樣。倒置金相顯微鏡廣泛應(yīng)用在工廠、實(shí)驗(yàn)室和教學(xué)及科研等領(lǐng)域。倒置金相顯微鏡系統(tǒng)是將傳統(tǒng)的光學(xué)顯微鏡與數(shù)碼設(shè)備通過光電轉(zhuǎn)換有機(jī)的結(jié)合在一起，不僅可以在目鏡上作顯微觀察，還能在電腦顯示屏幕上觀察實(shí)時(shí)動(dòng)態(tài)圖像，而這一切都是基于觀察清晰的基礎(chǔ)上，那那些因素會(huì)影響觀察清晰度呢？

金相分析及熱處理實(shí)驗(yàn)指的是一種試驗(yàn)方式，目的是金屬材料的物理性能和機(jī)械性能與其內(nèi)部之組織有相關(guān)連，因此，可以借著金相試驗(yàn)的宏觀組織及微觀組織的觀察判斷其的各項(xiàng)性能。宏觀組織試驗(yàn)法以研究金屬表面了解其物理或化學(xué)之“不均一性”，包括裂紋、空隙等，并以此可做材料斷面之“不均一性”即內(nèi)部缺陷之檢查。微觀組織試驗(yàn)法可檢查金屬組織、壓延、鍛造及熱處理等加工處理導(dǎo)致金相組織變化的情況，晶粒大小檢查或非金屬夾雜物等組織的分布情況、大小等及材料的破壞判斷等。

目前材料金相顯微鏡可觀察的材料較多，有如金屬陶瓷、集成塊、印刷電路板、液晶板、薄膜、纖維、鍍涂層以及其它材料，而無論是觀察哪一種材料，其成像效果佳是大家采購時(shí)的重要標(biāo)準(zhǔn)，那那些因素會(huì)影響到材料金相顯微鏡觀察效果呢？

顯微鏡一般分為正置金相顯微鏡與倒置顯微鏡，而二者因?yàn)榻Y(jié)構(gòu)上的不同，導(dǎo)致正置金相顯微鏡與倒置成像上產(chǎn)生了一些區(qū)別，而這也導(dǎo)致一些采購金相顯微鏡的采購人員，對(duì)于挑選哪一種金相顯微鏡產(chǎn)生了疑惑，下面就來一起了解下二者的區(qū)別不同之處。

用人眼、高倍放大鏡或電子光學(xué)體視顯微鏡觀查金屬復(fù)合材料的組織(或缺點(diǎn))以及變化趨勢的一種材料科學(xué)光學(xué)顯微鏡金相組織晶界實(shí)驗(yàn)。根據(jù)電子光學(xué)金相檢驗(yàn)?zāi)軌虿倏v制作工藝，確保產(chǎn)品品質(zhì)；找到設(shè)備零部件的無效緣故，以提升 商品的性能和使用壽命；科學(xué)研究原材料的組織和成份與性能中間的關(guān)聯(lián)，為發(fā)展趨勢新技術(shù)新工藝、新型材料、新機(jī)器設(shè)備出示根據(jù)。電子光學(xué)金相檢驗(yàn)一般都應(yīng)參考相對(duì)應(yīng)的檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)，如晶粒大小規(guī)范、參雜物規(guī)范、宏觀經(jīng)濟(jì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)和馬氏體等級(jí)規(guī)范等來開展。電子光學(xué)金相檢驗(yàn)包含宏觀經(jīng)濟(jì)檢測和顯微鏡組織檢測兩一部分。

原子力顯微鏡(Atomic Force Microscopy, AFM)是由IBM 企業(yè)的Binnig與史丹佛大學(xué)的Quate 于一九八五年所創(chuàng)造發(fā)明的，其目地是為了更好地使導(dǎo)電介質(zhì)還可以選用掃描儀探針顯微鏡（SPM）開展觀察。原子力顯微鏡（AFM）與掃描儀隧道施工顯微鏡（STM）最大的不同取決于并不是利用電子器件隧穿，只是利用原子中間的范德華力（Van Der Waals Force）功效來展現(xiàn)試品的表面特點(diǎn)。假定2個(gè)原子中，一個(gè)是在懸壁（cantilever）的探針頂尖，另一個(gè)是在樣版的表面，他們中間的相互作用力會(huì)隨間距的更改而轉(zhuǎn)變 ，其相互作用力與間距的關(guān)聯(lián)如“圖1” 所顯示，當(dāng)原子與原子很貼近時(shí)，彼此之間電子云排斥力的功效超過原子核與電子云中間的誘惑力功效，因此 全部協(xié)力主要表現(xiàn)為排斥力的功效，相反若兩原子分離有一定間距時(shí)，其電子云排斥力的功效低于彼此之間原子核與電子云中間的誘惑力功效，故全部協(xié)力主要表現(xiàn)為吸引力的功效。若以動(dòng)能的視角看來，這類原子與原子中間的間距與相互之間動(dòng)能的尺寸也可從Lennard –Jones 的公式計(jì)算中到另一種證實(shí)。